透射电子显微镜TEM

仪器型号：FEI Tecnai F20, TF30，JEOL JEM 2100F，FEI Talos F200X等

预约次数：16862次次 服务周期：7工作日个工作日 满意度：96.6%

透射电镜：TEM

仪器型号：FEI-TALOS-F200X，JEM-2100F等

测试周期：7-10个工作日

1，粉体、液体、可测试，薄膜或块状样品不能直接拍摄，需另行制样（如离子减薄、包埋切片、FIB等）；

2，样品的厚度不超过100nm，如果颗粒稍大一点，可适当研磨至100nm以下（可先拍SEM判定颗粒大小）；

3，一般制样选微栅铜网即可，如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样；样品含Cu，需要拍EDS能谱和mapping可选镍网或者钼网等；

4，强磁样品要求颗粒大小不超过200nm，且不接受自己制样；

5，请务必仔细检查您的样品，若发现以弱磁强磁充当非磁或者以强磁充当弱磁非磁，我们将可能无法安排您的实验，不承担以此造成的时间和样品损失；且须赔偿原订单金额的两倍费用！!若造成设备损坏，维修费用须由您全部承担；

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