同步辐射吸收谱（XAFS）

样品要求

粉末100mg以上，一般测试K边或者L边

常见问题及回答

功能是什么？

X射线吸收精细结构（X-ray absorption fine structure，XAFS）也叫做X射线吸收谱（X-ray absorption spectroscopy，XAS），是一种基于同步辐射光源的，研究材料局域原子、电子结构的一种有力的工具。XAFS广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域，主要是基于以下优点：
1、不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究；
2、不受其它元素的干扰，可对同一材料中不同的元素分别研究；
3、不受样品状态的影响，可以测量固体（晶体、粉末），液体（溶液、熔融态）和气体等；
4、对样品无破坏，可以进行原位测试；
5、能获得高精度的配位原子的种类、配位数以及原子间距等结构参数，一般认为原子间距的精确度可达0.01 Å；
6、检测下限低，最低可达几个ppm。

XAFS数据解析方面，可提供以下数据及服务：
1、XANES部分图谱，提供价态、初步结构的定性分析；
2、EXAFS拟合，提供配位原子种类、配位数和键长信息，以及简单的、从物理角度对谱的分析；
3、wavelet图谱，作为EXAFS拟合的进一步证据，并用小波炫图提高数据分析“逼格”；
4、帮忙回复审稿意见中关于XAFS的问题，提供中文回答，但不包括论文写作。
5、同步辐射不参与论文致谢活动，且致谢半价活动于2020年1月1日结束，所有优惠政策不可叠加。