详情介绍：
同步辐射 散射测试
测试项目：GIWAXS测试+数据处理，GISAXS测试+数据处理，数据分析处理，GIWAXS测试（不处理数据），GISAXS测试（不处理数据），空白样品
预约次数：500+次
服务周期：7-15个工作日
样品要求
1，基底材质为单晶硅或者石英玻璃，硅片请注明晶向；
2，请附带寄送一个空白基底，基底尺寸为1-2 cm2，空白样品也要收费，要求在空白基底上沉积与器件制备工艺一致的传输层；
3，根据材料的耐氧、耐湿等性质，妥善封装样品；
4，送样请填写送样清单
常见问题及回答
包含哪些技术？
掠入射X射线散射（GIXS）包括广角散射GIWAXS和小角度散射GISAXS，是基于同步辐射光源的X射线散射技术，用于表征表面或薄膜中的纳米级密度相关性、纳米物体的形状、以及晶格中的原子和分子距离，被广泛的应用于研究有机太阳能电池和钙钛矿太阳能电池的形貌特征，晶体结构等。
比如在OPV材料结构研究中，GIWAXS被用来探测分子尺度、结构信息，常用于研究有机给体和受体材料在活性层中的分子堆叠，如结晶度、晶格常数和取向性。GISAXS可以看作是传统小角散射和全反射测量的结合，能够获得表面、薄膜、覆盖层中的纳米结构（如纳米颗粒、量子点等）的尺寸分布、形状以及排列分布的相关信息。