原位断层光谱

样品要求

1.仅适用于有机薄膜，厚度范围2-500 nm；

2.对于平整均匀薄膜，断层光谱的垂直空间分辨率优于2 nm。对于不均匀薄膜，分辨率会下降；

3.吸收光谱和反射光谱均可测试；

4.如果您的器件是半透明的，那么可直接准备不覆盖无基层的“半器件”用于测试。例如，如果您关心的器件为ITO/PEDOT/Active layer/PDINO/Ag，那么可以寄给我们ITO/PEDOT/Active layer/PDINO进行测试。如果您关心的器件是不透明的，可用透明基底制备薄膜寄给我们；

5.样品平面尺寸：大于0.5 平方厘米；

常见问题及回答

功能有哪些？

原位断层吸收光谱可表征薄膜不同深度处的组分分布、凝聚态结构、光学分布、电荷局域态密度的空间和能量分布等，从而揭示薄膜中光学作用和电荷输运的机制。本方法既可用于有机高分子的通用薄膜，也可用于功能薄膜。

原位断层吸收光谱主要包括原位紫外可见断层光谱仪和原位红外断层光谱仪。