400-119-1996

详情介绍:


紫外光电子能谱(UPS)


测试项目:UPS
预约次数:500+次 服务周期:7-15个工作日

样品要求

1.样品为块体或薄膜,尺寸小于1cmx1cm,厚度小于2mm,最好是新鲜干燥的薄膜、块体材料,表面平整无污染(请标记好测试面)。

1.内容内容内容内容内容内容内容内容内容

2.粉末样品实验室制样一般压缩在导电胶上。如果客户使用旋涂法制备样品,要求是基材材质为ITO、FTO、单晶硅片等半导体材料,其实旋涂成膜也行,要求均匀,厚度大于测试深度2nm,若制样造成数据问题,客户自行承担。

3. UPS的光斑大小一般是1x1-3X3(mm)

4. 尽量注明膜厚度,测试时做个参考

5.一般导电良好样品(导体或者半导体)测功函数最好,不导电,测价带比较合理

6.做粉末样品风险大, 不建议做,测试反馈真实数据,样品问题,不支持解释与复测,下单即默认接受风险


常见问题及回答

测试结果为什么跟文献或者预期有偏差?

第一,由于UPS测量中光激发电子的动能在0-20eV范围,在此能量区间的电子逃逸深度较小,且随能量急剧变化,材料表面的导电性、污染程度和粗糙度等因素会对测量结果产生较大影响,轻则导致谱图的峰位移动和峰形变化,重则导致无信号。UPS适用于分析表面均匀洁净的导体以及导电性较好的半导体薄膜材料。对于合成的粉末样品,影响因素较多,UPS测试存在一定风险

第二,UPS测试过程中,紫外光的扫描范围仅为样品中的某个微小区域,如果样品制备不均匀,或者测试区域恰好条件不佳,也可能会影响测试结果

测试老师给出的数据分析结果准确吗,是否可以调整?

测试老师给出的只是分析结果仅供参考,因为测试老师不知道每个样品具体是什么材料,只能根据自己的习惯和经验大致作图分析,所以我们一般还需要根据对样品性质的了解,对数据分析结果微调甚至大的调整。

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