X射线荧光光谱（XRF）

样品要求

1.样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品

2.粉末样品：粉末样品需要至少1 g ，最好3 g以上，样品在测试之前尽量干燥，200目以下；含碳元素含量超过10%的样品，请先将样品烧成灰，再测试

3.块状、薄膜样品：块状样品必须有一边大于2.5 cm，标明测试面（表面光滑平整）

常见问题及回答

为什么要求XRF测试粉末样品用量最好达到3 g以上？

因为需要和淀粉一起压片做，如果样品量太少的，需要加很多淀粉容易导致结果不准确。

为什么XRF测试要求薄膜（块体）样品尺寸直接要大于2.5 cm？

因为放置薄膜（块体）样品需要放进测试槽，测试槽的直径是2.5 cm，如果样品太小会固定不了。

XRF测试可以精确到多少？

XRF测试原则上可以精确到ppm级别的，但这个精度是基于标准物质的，常规的XRF测试只是半定量测试，误差不好判断，仅作为元素含量百分比的参考。