400-119-1996

详情介绍:


位错密度测试(XRD)


测试项目:位错密度测试
预约次数:500+次 服务周期:7-15个工作日

样品要求

1,块体薄膜样品长宽高一般为~10*10*2mm;

2,块体表面积介于1-2平方厘米,厚度小于3mm,要求样品表面平滑


常见问题及回答

功能有哪些?

用于材料位错密度分析

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