原子力显微镜（AFM）

样品要求

1. 样品状态：可为粉末、块体、薄膜样品；
2. 粉末样品：颗粒一般不超过5微米，提供20mg，若尺寸过大请提前咨询客户经理；
3. 粉末/液体样品请备注好制样条件，包括分散液，超声时间及配制浓度；
4. 薄膜或块状样品尺寸要求：长宽0.5-3cm之间，厚度0.1-1cm之间，表面粗糙度不超过5um，一定要标明测试面！若尺寸过大请提前咨询客户经理
5. 测试压电、表面电势的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小最小不小于1*1cm。其他问题请咨询客户经理。

常见问题及回答

为什么AFM测试样品颗粒或者表面粗糙度不能过大？

因为尺寸过大，会碰到仪器探针针尖，针尖易磨钝以及受污染，且磨损无法修复，污染则清洗困难 。

AFM拍摄不到自己想要的效果，表面形貌或粗糙度与自己预期不符合？

AFM拍摄也需要不断寻找合适的位置拍摄，同一样品不同拍摄部位表面形貌和粗糙度极有可能不一致，因为原子力显微镜成像范围较小，与拍摄样品表面是否均匀息息相关；